產(chǎn)品名稱:精密涂鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號:EPK MiniTest 1100
產(chǎn)品簡介:
德國EPK精密涂鍍層測厚儀MiniTest 1100特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能; 所有型號均可配所有探頭; 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機; 可使用一片或二片標準箔校準。
德國EPK精密涂鍍層測厚儀-多探頭選擇
德國EPK精密涂鍍層測厚儀MiniTest 1100用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
? 有色金屬上的絕緣覆層
? 絕緣基體上的有色金屬覆層

德國EPKMiniTest 1100選擇特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。 
EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭  | 量程  | 低端  | 誤差  | zui小曲率半徑  | zui小測量  | zui小基  | 探頭尺寸  | |
磁  | F05  | 0-500μm  | 0.1μm  | ±(1%±0.7μm)  | 1/5mm  | 3mm  | 0.2mm  | φ15x62mm  | 
F1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ15x62mm  | |
F1.6/90  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/6mm | 5mm  | 0.5mm  | φ8x8x170mm  | |
F2/90  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/6mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ8x8x170mm  | |
F3  | 0-3000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ15x62mm  | |
F10  | 0-10mm | 5μm  | ±(1%±10μm)  | 5/16mm  | 20mm  | 1mm  | φ25x46mm  | |
F20  | 0-20mm  | 10μm  | ±(1%±10μm)  | 10/30mm  | 40mm  | 2mm  | φ40x66mm  | |
F50  | 0-50mm  | 10μm  | ±(3%±50μm)  | 50/200mm  | 300mm  | 2mm  | φ45x70mm  | |
兩  | FN1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | F0.5mm/N50μm  | φ15x62mm  | 
FN1.6P  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面  | 30mm  | F0.5mm/N50μm  | φ21x89mm  | |
FN2  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | F0.5mm/N50μm  | φ15x62mm  | |
電  | N02  | 0-200μm  | 0.1μm  | ±(1%±0.5μm)  | 1/10mm  | 2mm  | 50μm  | φ16x70mm  | 
N.08Cr  | 0-80μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 2.5mm  | 2mm  | 100μm  | φ15x62mm  | |
N1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 2mm  | 50μm  | φ15x62mm  | |
N1.6/90  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/10mm  | 5mm  | 50μm  | φ13x13x170mm  | |
N2  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 50μm  | φ15x62mm  | |
N2/90  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/10mm  | 5mm  | 50μm  | φ13x13x170mm  | |
N10  | 0-10mm  | 10μm  | ±(1%±25μm)  | 25/100mm  | 50mm  | 50μm  | φ60x50mm  | |
N20  | 0-20mm  | 10μm  | ±(1%±50μm)  | 25/100mm  | 70mm  | 50μm  | φ65x75mm  | |
N100  | 0-100mm  | 100μm  | ±(1%±0.3mm)  | 100mm/平面  | 200mm  | 50μm  | φ126x155mm  | |
CN02  | 10-200μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 平面  | 7mm  | 無限制  | φ17x80mm  | |
  F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
  N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
  CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 
德國EPKMiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
![]()  | FN1.6 0~1600μm,φ5mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm)  | 
![]()  | FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度  | 
![]()  | FN2 0~2000μm,φ5mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層  | 
![]()  | F05 0~500μm,φ3mm 磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm)  | 
![]()  | F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(O.1μm)  | 
![]()  | F3 0~3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層  | 
![]()  | F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm)  | 
![]()  | F2/90 0~2000μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測量  | 
![]()  | F10 0~10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(如水箱、管道等)上的防腐覆層, 如玻璃、塑膠、混凝土等  | 
![]()  | F20 0~20mm,φ40mm 適合測量鋼結(jié)構(如水箱、管道等)上的防腐覆層, 如玻璃、塑膠、混凝土等  | 
![]()  | F50 0~50mm,φ300mm 適合測量鋼結(jié)構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層  | 
![]()  | N02 0~200μm,φ2mm 非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm)  | 
![]()  | N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層  | 
![]()  | N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm)  | 
![]()  | N2 0~2000μm,φ5mm 非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層  | 
![]()  | N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm)  | 
![]()  | N2/90 0~2000μm,φ5mm 磁性測頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測量  | 
![]()  | N10 0~10mm,φ50mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等  | 
![]()  | N20 0~20mm,φ70mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等  | 
![]()  | N100 0~100mm,200mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等  | 
![]()  | CN02 10~200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板  | 
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